根據(jù)《復(fù)合電極SLC單層芯片電容》可知,復(fù)合電極SLC單層芯片電容的下表面電極可以很好地與錫膏回流焊或銀膏焊接,其中的鈦鎢(TiW)層使銅(Cu)層與電容陶瓷基片更好地結(jié)合,并具有阻擋作用;銅層作為阻擋層,用于阻擋外界對(duì)過(guò)渡層的破壞,并具有焊接作用;金(Au)層既是焊接層,也是保護(hù)層,有效地阻擋了錫膏回流焊時(shí)焊錫滲透至銀層中,使用錫膏回流焊的焊接效果良好,不會(huì)存在錫銀合金現(xiàn)象或銀遷移現(xiàn)象。而且,錫膏回流焊溫度為260℃,而復(fù)合電極SLC單層芯片電容中下表面電極的金層與錫膏回流焊不會(huì)導(dǎo)致銀遷移現(xiàn)象,所以其耐溫溫度可達(dá)到260℃。若采用高溫錫,耐溫溫度可達(dá)300℃以上。另外,復(fù)合電極SLC單層芯片電容中上表面電極的銀層表面能與鋁線、銅線或金線很好地邦定焊接,邦定打線后不脫線,可靠性高。而復(fù)合電極SLC單層芯片電容的制備方法如下:
一、在片狀電容陶瓷基材的一表面上印刷銀漿,然后進(jìn)行高溫?zé)Y(jié)。
①將電容陶瓷用的Ⅰ類瓷、Ⅱ類瓷或Ⅲ類瓷的粉末按實(shí)際所需的配方進(jìn)行配料、球磨、等靜壓成型、燒結(jié)、切片,制成電容陶瓷基材;
②采用200目絲網(wǎng)在電容陶瓷基材一表面印刷銀漿;
③采用網(wǎng)帶燒結(jié)爐進(jìn)行高溫?zé)Y(jié),高溫?zé)Y(jié)的溫度為850℃,燒結(jié)頻率為25±5Hz,燒結(jié)保溫時(shí)間為15分鐘;印刷銀層的厚度為5~7微米。
二、在電容陶瓷基材的另一表面上依次濺射鈦鎢層、銅層和金層,具體包括以下步驟:
①一次清洗
使用清洗液處理電容陶瓷基材后使用超聲波機(jī)清洗,清洗時(shí)間為5±1分鐘;然后烘干,烘干溫度為100±5℃,烘干時(shí)間為30±5分鐘。
②二次清洗
將一次清洗得到的電容陶瓷基材放到等離子清洗機(jī)中進(jìn)行二次清洗,清洗時(shí)間為5±1分鐘,烘干溫度為100±5℃,烘干時(shí)間為30±5分鐘,同時(shí)活化表面。
③濺射鈦鎢層
先將真空濺射鍍膜機(jī)抽真空到工藝范圍,再充入氬氣作為工作氣體,以鈦與鎢的質(zhì)量比為1:9的鈦鎢合金作為靶材,在電場(chǎng)作用下,Ar+加速轟擊靶材,將靶材原子濺射到電容陶瓷基材上,在電容陶瓷基材中沒(méi)有印刷銀層的表面上濺射一層鈦鎢層,濺射厚度為0.1~0.15微米。
④濺射銅層
先將真空濺射鍍膜機(jī)抽真空到工藝范圍,再充入氬氣作為工作氣體,以銅作為靶材,在電場(chǎng)作用下,Ar+加速轟擊靶材,將靶材原子濺射到電容陶瓷基材上,在鈦鎢層表面上濺射一層銅層,濺射厚度為0.1~0.2微米。
⑤濺射金層
先將真空濺射鍍膜機(jī)抽真空到工藝范圍,再充入氬氣作為工作氣體,以金作為靶材,在電場(chǎng)作用下,Ar+加速轟擊靶材,將靶材原子濺射到電容陶瓷基材上,在銅層表面上濺射一層金層,濺射厚度為0.25~0.55微米。
三、根據(jù)所需單層芯片電容的電容值計(jì)算出單個(gè)芯片電容的尺寸大小,然后利用半導(dǎo)體砂輪劃片機(jī)對(duì)電容陶瓷基材進(jìn)行劃切,得到單個(gè)的單層芯片電容。
四、測(cè)試分選
使用LCR電橋測(cè)試儀對(duì)批量生產(chǎn)得到的單層芯片電容逐個(gè)進(jìn)行容量測(cè)試,將不符合容量要求范圍的產(chǎn)品分選出來(lái)進(jìn)行降級(jí)處理。
將常規(guī)的SLC單層芯片電容與復(fù)合電極SLC單層芯片電容進(jìn)行邦定(鍵合)對(duì)比試驗(yàn),試驗(yàn)樣品的尺寸為1.15*1.15*0.50mm,其電容C=200pF±10%,損耗(DF):<100*10-4,絕緣(IR):>10*1010歐姆。通過(guò)錫膏回流焊將芯片電容樣品焊接在電路板上之后,用線徑1mil的鋁線與芯片電容樣品的表面電極鍵合,鍵合力為20g,鍵合時(shí)間為5ms,鍵合后利用鍵合強(qiáng)度測(cè)試儀測(cè)試鍵合拉力,單位為g。邦定(鍵合)對(duì)比試驗(yàn)結(jié)果如下表:
由于鈦鎢層、銅層和金層層疊而成的下表面電極有效地解決了錫膏回流焊所產(chǎn)生的錫銀合金現(xiàn)象和銀遷移現(xiàn)象,因此復(fù)合電極SLC單層芯片電容與電路板能更好地焊接結(jié)合,不會(huì)存在因芯片電容的銀遷移現(xiàn)象而造成芯片電容與電路板分離和松動(dòng)的現(xiàn)象。因此,復(fù)合電極SLC單層芯片電容與鋁線鍵合強(qiáng)度更高,鍵合拉力大于標(biāo)準(zhǔn)值4g,最高可達(dá)6.6g,其邦定性能也明顯優(yōu)于常規(guī)的SLC單層芯片電容。
參考數(shù)據(jù):
CN109659134A《一種高可靠雙面異質(zhì)復(fù)合電極芯片電容》
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